G2LGAN＋CNN （2025）
2 段階の GAN によるデータ拡張と MobileNetV2 を組み合わせ、クラス不均衡なウェーハマップの欠陥分類に対応します。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
INSPECTION & TEST
ウェーハ検査・テスト装置
Wafer Inspection & Test
全ラインを貫く計測、欠陥検査、電気特性テストです。
EQUIPMENT SCOPE
取扱装置の範囲
- ADVANTEST の半導体テスト装置
- LASERTEC の検査・計測装置
日系主力ブランドを中心に、電気特性テストと光学／レーザー検査の装置をカバーします。
SERVICES
サービス内容
- 装置の調達と機種選定の評価
- 装置状態の確認と受入検査の支援
- 解体・梱包・越境輸送
- 搬入据付、校正と立ち上げ調整
- 光学系とテストインターフェースの保守点検
- 検査・テストフローの導入
- データ判読と操作の人材育成
AI INTEGRATION
AI 統合
以下は BETTER がベンチマークする第三者の最先端アーキテクチャです。
CNN-ESN （2026）
ResNet34 とエコーステートネットワークを組み合わせ、ノイズを含むウェーハマップでも識別のロバスト性を保ちます。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
SEMVision H20 （2025）
生産ラインで継続学習する深層学習の画像分類により、e-beam 欠陥の再検査を高速化します。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
GPU リアルタイム適応テスト
GPU で加速した機械学習をテスト工程でリアルタイムに調整し、テスト時間を短縮します。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
KGD／外れ値検出（GPR、コンフォーマル予測）
空間モデリングとコンフォーマル予測により、良品判定と外れ値検出の精度を高めます。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
InF-ATPG （2025）
FFR 分割に QGNN と DQN を組み合わせ、テストパターン生成を最適化します。
ベンチマーク／導入対象の最先端アーキテクチャ
USE CASES
適用シーン
- インライン欠陥検出とフィードバックの強化が必要な生産ライン
- テスト時間とテストコストの負担が大きい後工程・テスト工場
- 検査装置の移設と光学系の再校正
- 研究機関が欠陥解析の実験能力を立ち上げる場合
GET IN TOUCH
生産ラインのご要望をお聞かせください
装置選定から据付、AI 導入まで、ワンストップでご対応します。