G2LGAN＋CNN （2025）
两阶段 GAN 增强配合 MobileNetV2，处理类别不平衡的晶圆图缺陷分类。
对标／导入的前沿架构
INSPECTION & TEST
晶圆检测设备
Wafer Inspection & Test
贯穿全线的量测、缺陷检测与电性测试。
EQUIPMENT SCOPE
设备范围
- ADVANTEST 半导体测试设备
- LASERTEC 检测与量测设备
以日系主力品牌为主，涵盖电性测试与光学／激光检测设备。
SERVICES
服务内容
- 设备采购与机型评估选型
- 设备状态查验与验机协助
- 拆机、包装与跨境运输
- 进场安装、校准与调试
- 光学系统与测试接口维护保养
- 检测与测试流程导入
- 数据解读与操作培训
AI INTEGRATION
AI 整合
以下为倍特尔对标导入的第三方前沿架构。
CNN-ESN （2026）
ResNet34 结合回声状态网络，提升含噪声晶圆图的识别鲁棒性。
对标／导入的前沿架构
SEMVision H20 （2025）
以产线持续训练的深度学习图像分类加速 e-beam 缺陷复检。
对标／导入的前沿架构
GPU 实时自适应测试
以 GPU 加速机器学习在测试流程中实时调整，缩短测试时间。
对标／导入的前沿架构
KGD／离群检测（GPR、共形预测）
以空间建模与共形预测提升已知良品判定与离群检测。
对标／导入的前沿架构
InF-ATPG （2025）
以 FFR 划分结合 QGNN 与 DQN 优化测试图形生成。
对标／导入的前沿架构
USE CASES
适用场景
- 需要强化在线缺陷检测与反馈的产线
- 测试时间与测试成本压力大的封测厂
- 检测设备移机与光学重新校准
- 研究机构建立缺陷分析能力